Скачать статьи
ФГУП «ВНИИФТРИ» – 65 лет
Общие вопросы метрологии
- Ткаченко К.С., ФГАОУ ВО «Севастопольский
государственный университет»
Структурный подход к проектированию компьютерных узлов для деградирующих и самовосстанавливающихся первичных измерителей
Общие вопросы метрологии
- Хайруллин Р.З., д.ф.-м.н., Национальный исследовательский Московский государственный строительный университет, ФГБУ «ГНМЦ» Минобороны России
Применение байесовского подхода в задачах построения статистических оценок при обработке результатов испытаний измерительной техники
Общие вопросы метрологии
- Иванов И.Г.
Концептуальная модель информационно-управляющей системы поддержки принятия решений при испытаниях космических средств на основе прецедентов
Измерения геометрических величин
- Савкин К.Б., к.т.н., ФГУП «ВНИИОФИ», Корнилов С.В., к.т.н., Конюхов М.А., ФГБУ «ГНМЦ» Минобороны России
Применение мер длины концевых плоскопараллельных для оценки погрешности измерений длины системой лазерной координатно-измерительной
Научно-технические обзоры материалов конференций, симпозиумов
Измерения механических величин
- Денисенко О.В., д.т.н., ФГУП «ВНИИФТРИ», Храменков В.Н., д.т.н., профессор, Вышлов В.А., д.т.н., профессор, ФГБУ «ГНМЦ» Минобороны России, Романова Т.А. ФГУП «ВНИИФТРИ»
Новые технологии в области навигации: конференция ФГУП «ВНИИФТРИ»
Измерения механических величин
- Надеин В.В., к.п.н., доцент, Черняев К.С., к.т.н., Надеина О.В., к.п.н., ФГБУ «ГНМЦ» Минобороны России
Современные проблемы развития и пути их решений в проведении своевременной и достоверной диагностики для обеспечения безопасной эксплуатации и прогнозирования ресурса (по материалам VII Международного промышленного форума» (3 марта – 5 марта) «Территория NDT. Неразрушающий контроль. Испытания. Диагностика»)
Выставки, конференции в II квартале 2020 года
- «Актуальные задачи военной метрологии», 45 научно-техническая конференция молодых ученых (23.04.2020)
КВЦ «Патриот», г. Кубинка Московской области - Международный форум-выставка «МетролЭкспо-2020»
- XII Всероссийская научно-техническая конференция «Метрология в радиоэлектронике» (16–18 июня 2020 г.)
- 15-я Международная специализированная выставка «Фотоника. Мир Лазеров и Оптики–2020»
(31 марта – 3 апреля)
Информация
- К сведению авторов
- Новинки измерительной техники